提問：如何實現SEM，納米尺度下深入解析材料電學和化學特性？

耦合CLUE 系列光譜儀，輕松升級SEM陰發光、光致發光和拉曼光譜功能

升級陰發光光譜獲取：

• 提供電學和組成特性

• 質量控制、失效分析

• 缺陷雜質、摻雜

• 污染物和包裹體

• 鋯石的區域分析

升級拉曼光譜獲取：

• 化合物分子鑒定

• 官能團分析

• 結晶度和晶格類型

• 張/壓應力變化

• 自由載流子濃度

助力SEM升級，zui緊湊的附件——CLUE光譜儀

接口保留掃描電鏡的原始配置

快速獲得陰發光成像及光譜

低檢出限用于微量、雜質和缺陷分析

全光CL探測器，直接由亮度/對比度觸摸板控制，

可升級至全譜

全新增強型LabSpec 6軟件用于光譜和成像

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>>>>HORIBA科學儀器事業部

結合旗下具有近 200 多年發展歷史的 Jobin Yvon 光學光譜技術，HORIBA Scientific 致力于為科研及工業用戶提供先進的檢測和分析工具及解決方案。如：光學光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進檢測技術。今天HORIBA 的高品質科學儀器已經成為科研、各行業研發及質量控制的。