HORIBA參展的SEMICON China 2018

     自1988年在上海舉辦以來，SEMICON China已成為中國首要的半導體行業盛事之一，囊括當今世界上半導體制造領域主要的設備及材料廠商。可以說，SEMICON China見證了中國半導體制造業茁壯成長，加速發展的歷史。

  本屆SEMICON China于3月14日在上海開幕，HORIBA也前來參加這一盛會，力求在追求率的半導體行業中，為科研及工業用戶提供先進的檢測和分析工具，并提供解決方案。

  HORIBA作為有著近200年光學、光譜經驗的老品牌，非常注重行業間合作，以推動不同領域的科研技術發展以及成果轉化，譬如：HORIBA的輝光放電光譜技術就可用于半導體材料中鍍層的深度剖析；橢圓偏振光譜技術可用于薄膜厚度、光學常數表征及工藝對鍍層的影響分析；拉曼光譜技術可用于半導體芯片缺陷分析診斷等。

  本次盛會，HORIBA專設展臺，與科研專家及廠商面對面交流。如果您有任何疑惑或需求，歡迎光臨我們的展臺，HORIBA的銷售和技術人員會給您提供專業的建議及解決方案。

附展會詳細信息如下：

展出時間：2018年3月14日-16日

展出地點：上海新博覽中心

HORIBA展位號：N2館 No.2601

>>>>HORIBA科學儀器事業部

結合旗下具有近 200 多年發展歷史的 Jobin Yvon 光學光譜技術，HORIBA Scientific 致力于為科研及工業用戶提供先進的檢測和分析工具及解決方案。如：光學光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進檢測技術。今天HORIBA 的高品質科學儀器已經成為科研、各行業研發及質量控制的。