2月5-9日，表面增強拉曼光譜會議 (International Conference on Surface-Enhanced Raman Spectroscopy) 在廈門大學召開，議題涵了SERS的機理及其在電化學、生物與生命科學、痕量檢測與分析、食品安全、環境保護、催化、能源、材料等領域的應用。

針對此次會議主題，作為擁有近兩百年光學儀器生產經驗的品牌，HORIBA為該領域的相關工作人員重點推薦以下三種光譜解決方案，現場受到了不少客戶垂詢。

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 NanoRaman系統  

數分鐘內實現納米尺度拉曼成像

掃描探針顯微鏡（SPM）的出現，使得大氣環境中納米尺度成像成為了可能，材料表面各種物理特性（形貌、電學、磁學等）的表征得以快速發展。然而如何實現無標記的化學結構表征仍是一項挑戰。與此同時光學光譜也已成為納米材料分析的有力工具，但其空間分辨率卻受限于光學衍射限。于是將兩種技術聯用成為一種富吸引力的*方法。不過將兩種儀器集成一套完整的方案挑戰。

基于此背景，HORIBA憑借多年經驗開發了NanoRaman整體解決方案。NanoRaman系統可以穩定、便捷的實現針尖增強拉曼光譜（TERS）成像。對于二維材料樣品，數分鐘內可以完成幾千個數據點的TERS成像，在X與Y方向均可以達到10nm的空間分辨率。

12月6日 SERS 大會報告上，HORIBA技術專家魯逸林博士詳細介紹NanoRaman的硬件系統優化（穩定的光路系統、高重復、高靈敏的Ag針尖，）和應用案例（二維材料的缺陷、邊界、電勢等信息的納米尺度表征），引起與會者們的廣泛關注。

魯逸林博士做針尖增強拉曼TERS在二維材料中新進展報告

2017年，AFM生產廠家——AIST-NT正式加入HORIBA。至此，從TERS產品的研發，應用開發到設備安裝調試，使用人員的培訓和售后服務均由HORIBA統一完成，為廣大用戶帶來便利，降低了溝通成本。

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 HORIBA系列熒光光譜 

助力表面增強光譜研究

在以納米顆粒為基礎的表面增強光譜研究過程中， HORIBA熒光光譜解決方案不僅可以用于表面增強熒光光譜研究，亦可表征納米顆粒尺寸大小及其團聚反應。HORIBA擁有豐富的熒光光譜產品線和附件，可進行熒光穩瞬態及量子產率的測量，滿足不同的應用需求，軟件功能強大，模塊化設計便于功能拓展，從而為老師的研究帶來更多的可選方案。

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SZ-100 納米粒度儀

納米尺度下檢測貴金屬顆粒尺寸

在表面增強研究領域中，貴金屬顆粒的尺寸大小對散射光譜也有著重要的影響，作為納米尺度下粒徑測量的*工具，納米粒度儀當仁不讓承擔起這個責任。SZ-100納米粒度儀作為一款的納米顆粒表征儀器，測量范圍低至0.3nm，實現了超寬濃度范圍樣品測量，即使濃度高達百分之幾十，亦可準確測量。無需對樣品進行任何稀釋和其他處理。

SZ-100 納米顆粒分析儀

SERS會議全家福

此次表面增強拉曼會議由廈門大學李劍鋒教授任主席，中科院、廈門大學田中群院士任榮譽主席，總共吸引國內外逾200位SERS研究工作者及15家拉曼儀器廠商參與。會議主要討論過去40多年SERS在實驗與理論方面的發展及其應用，以加強同行之間的交流與合作，推動SERS的持續發展與創新。HORIBA也希望通過自己專業的產品和服務，為未來SERS研究事業更上一層樓繼續添磚加瓦。

>>>>HORIBA科學儀器事業部

結合旗下具有近 200 多年發展歷史的 Jobin Yvon 光學光譜技術，HORIBA Scientific 致力于為科研及工業用戶提供先進的檢測和分析工具及解決方案。如：光學光譜、分子光譜、元素分析、材料表征及表面分析等先進檢測技術。今天HORIBA 的高品質科學儀器已經成為科研、各行業研發及質量控制的。