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GB/T 12085.4-2010測試標(biāo)準(zhǔn)
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GB/T 12085.4-2010標(biāo)準(zhǔn)介紹
GB/T 12085.4-2010標(biāo)準(zhǔn)簡介
GB/T 12085.4規(guī)定了鹽霧試驗的試驗條件、條件試驗、試驗程序及環(huán)境試驗標(biāo)記。
本部分適用于光學(xué)儀器、裝有光學(xué)零部件的儀器和光學(xué)零部件。
本試驗?zāi)康氖潜M早對儀器表面和保護(hù)涂(鍍)層抵抗鹽霧的能力進(jìn)行評估。
GB/T 12085《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法》分為以下16個部分：
—— 第1部分：術(shù)語、試驗范圍;
——第2部分：低溫，高溫、濕熱;
——第3部分：機(jī)械作用力;
——第4部分：鹽霧;
——第5部分：低溫、低氣壓綜合試驗;
——第6部分：砂塵;
——第7部分：滴水、淋雨;
——第8部分：高壓、低壓、浸沒;
——第9部分：太陽輻射;
——第10部分：振動(正弦)與高溫、低溫綜合試驗;
——第1l部分：長霉;
——第12部分：污染;
——第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗;
——第14部分：露、霜、冰;
——第15部分：寬帶隨機(jī)振動(數(shù)字拄制)與高溫、低溫綜合試驗;
——第16部分：彈跳或恒加速度與高溫、低溫綜合試驗。
本部分為GB/T 12085的第4部分。
本部分修改采用IS0 9022-4：2002《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法第4部分：鹽霧》。
本部分與IS0 9022-4：2002的主要差異如下：
——刪除標(biāo)準(zhǔn)的序占和前言;
——根據(jù)IS0 9022-4第1章及我國標(biāo)準(zhǔn)用語習(xí)慣對標(biāo)準(zhǔn)范圍作了重新編寫;
——“標(biāo)準(zhǔn)本部分”一詞改為“本部分”。
本部分代替GB/T 12085.4-1989《光學(xué)和光學(xué)儀器環(huán)境試驗方法鹽霧》，與GB/T 12085.4 -1989的主要差異為：
——合并范圍與試驗?zāi)康模瑢⒃囼炏薅ǚ湃嗽囼灄l件中，并增加試驗限定的總則及適宜性與不適宜性的條文編號;
——按內(nèi)容重新編排試驗條件的條的編號;
——增加了試驗程序的總則并編號;
——簡化了試驗程序中預(yù)處理的相關(guān)方法制備內(nèi)容;
——增加了環(huán)境試驗的標(biāo)記名稱，修改了相應(yīng)標(biāo)準(zhǔn)號的編寫。
▼GB/T 12085.4-2010第三方檢測機(jī)構(gòu)
GB/T 12085.4-2010PDF資料
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