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技術文章
錦正茂科技高低溫探針臺T8-LY100技術參數
點擊次數:544 發布時間:2023-12-1
高低溫探針臺T8-LY100能夠為半導體芯片的電學參數測試提供一個80K-420K高低溫測試環境,通過外接不同的電學測量儀器,可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數檢測,用于低溫環境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學測試。
技術參數:
1、真空腔體約直徑260mm,
2、帶有4英寸高透射觀察窗,材質熔融石英
3、樣品載臺直徑:50mm 樣品載臺平整度<5微米
4、溫度范圍:80K-420K,控溫儀精度:0.1-0.5K
5、X-Y-Z行程范圍:±25mm*±25mm*0-12.5mm線性運動,位移精度:1um
6、預留光纖接入口做光響應測試
7、預留四個探針座的接口
8、探針長度38mm,直徑0.5mm,針尖直徑1um
9、兩套CCD相機(能看清1-2um)
10、耦合一套四軸應變裝置(定制)
11、三同軸射頻接口:4只,外接三同軸連接線雙向公頭,長度 2米
13、真空抽口KF50
14、重量:75kg