探傷儀的使用過程總是會出現(xiàn)各種各樣的故障，導(dǎo)致我們的工作人員耽誤工作，先提供幾項(xiàng)常見的故障，方便與我們的工作人員自我可以排除，及時工作，不會對我們的工作產(chǎn)生大的影響
A 儀器不能開機(jī)
（1） 應(yīng)檢查電池電量是否充足、安裝是否可靠，或者直接接入電源適配器后開機(jī)；
（2） 多次按動電源鍵，但間隔應(yīng)不少于半分鐘；
（3） 接上電源適配器，反復(fù)開啟儀器電源軟開關(guān)。
（4） 如果上述方法無效，接上電源適配器對電池充電半小時后再開機(jī)。
B 儀器自動關(guān)機(jī)
儀器具有電池電量檢測能力，當(dāng)電池電量太低時，儀器會自動關(guān)機(jī)。可以先對電池充電一段時間，或者直接接入電源適配器，然后再開機(jī)。
C 無回波
（1） 探頭是否連接正確；
（2） 探頭方式設(shè)置是否恰當(dāng)，如果探頭設(shè)置為雙晶或者穿透探頭，而接入的是單探頭，則不會有回波；
（3） 探頭線是否正常，探頭與探頭線接觸是否正常，可用一個鑷子（金屬）以接觸探頭座的內(nèi)芯，如果有雜波，則儀器良好，應(yīng)該是探頭線損壞。
（4） 增益、顯示平移、探頭零點(diǎn)、信號抑制等參數(shù)設(shè)置是否恰當(dāng)。
（5） 無回波時的簡單處理方法：將系統(tǒng)參數(shù)恢復(fù)到出廠狀態(tài)，然后用一根新探頭線連接直探頭，在耦合良好的薄試塊上探測，如有回波則可能為原參數(shù)設(shè)置不當(dāng)或者探頭線接觸不良。
D 鍵盤操作失靈
（1） 該鍵盤被鎖定（即此時不應(yīng)操作此鍵）；
（2） 未按住鍵盤中的接觸點(diǎn)；
（3） 未按屏幕提示操作鍵盤；
注：將“按鍵聲音”參數(shù)設(shè)置為“開”，按儀器鍵盤，查看是否有按鍵蜂鳴聲。如果有按鍵蜂鳴聲，則該按鍵正常。
E 數(shù)據(jù)文件丟失
存儲在儀器內(nèi)的數(shù)據(jù)一般不會丟失，如果在短時間內(nèi)丟失應(yīng)注意：
（1） 是否執(zhí)行了“清空”或者“初始化”操作；
（2） 是否經(jīng)歷過激烈的撞擊；
（3） 是否長時間未開機(jī)且未充電。
F 雜波干擾強(qiáng)烈或回波左右移動或忽有忽無
（1） 探頭和探頭線接觸不良，此時去掉探頭線，現(xiàn)象應(yīng)消失。
（2） 電源線或電源適配器有干擾，去掉充電器直接使用電池，現(xiàn)象應(yīng)消失。
（3） 探頭或探頭線距離屏幕太近，引起屏輻射。
G 無法制作DAC曲線
（1） 儀器檢波方式為射頻狀態(tài)，應(yīng)該先切換到其它檢波方式。
（2） 屏幕上顯示的回波幅度太低，未達(dá)到閘門高度以上（回波幅度低于閘門高度時，無法實(shí)現(xiàn)自動搜索回波信號功能）。
H 閘門報警無效
（1） 閘門報警關(guān)閉
（2） 信號幅度不在閘門報警幅度范圍內(nèi)。
注：如果以上可能均被排除，儀器工作仍不正常，應(yīng)立即與我公司。
I 儀器死機(jī)
（1） 參數(shù)設(shè)置是否合乎探傷工藝，若參數(shù)設(shè)置有誤，在探傷過程中會造成運(yùn)算錯誤，導(dǎo)致儀器死機(jī)。
（2） 電池幾乎用光的瞬間，因?yàn)殡妷汉艿停聊豢赡茱@示混亂或被凍結(jié)，如同死機(jī)。此時將儀器關(guān)機(jī)充電，或者接上電壓適配器后再開機(jī)使用，一般能恢復(fù)正常。
如果發(fā)現(xiàn)未進(jìn)入探傷界面即顯示混亂，可能是參數(shù)設(shè)置錯誤或者經(jīng)過強(qiáng)烈的震動，可以先關(guān)機(jī)，30秒后再開機(jī)觀察。
