半導體封裝抗濕氣能力測試方法PCT高壓加速老化試驗箱：
目的：
PCT高壓加速老化測試最主要是測試半導體封裝之抗濕氣能力,待測品被放置嚴苛的溫濕度以及壓力環境下測試,如果半導體封裝的不好,濕氣會沿著膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體之中，其常見的故障原因有爆米花效應、主動金屬化區域腐蝕造成之斷路封裝體引腳間因污染造成之短路等相關問題。
試驗方法：
首先需要檢查 pct高壓加速老化箱的內部，確保其干凈和完好。然后還需要將樣品裝入好樣品夾中，并在其表面打上磨損標志，以便于觀察其性能降解程度。
根據被測材料的特性，選擇合適的 PCT 參數。例如，溫度、壓力、氣體種類和氣體流量都可以根據需要進行調整。也可以使用現有的標準設置。
將 pct高壓加速老化箱密封好，并連接到所需的電力和氣體進出口上進行相應設置。然后將老化測試運行至時間，并在測試過程中取樣進行檢測。測試結束后，需要對樣品進行詳細的性能測量和分析，以捕捉其性能降解程度。
將所得數據輸入到統計軟件中，進行相關分析和圖像處理。這些圖像和報告將有助于評估材料在實際使用中的穩定性。
在材料科學領域，加速老化測試是一項重要的實驗。使用pct高壓加速老化箱，可以快速模擬材料在長期使用過程中面臨的各種破壞情況，有助于預測其在實際使用過程中的性能程度。在操作測試過程中，需要仔細遵守相應的步驟，以保證測試結果的準確性。
