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涂層測厚儀使用方法和注意事項
閱讀：1829 發布時間：2018-12-5
涂鍍層測厚儀測量數據的影響因素
1、薄涂層的測量準確度和厚度沒有關系，是一個常數，厚涂層的測量準確度是一個近似恒定的分數和厚度的乘積。
2、基體磁性的變化會影響測量的數據，所以涂鍍層測厚儀校準時要采用材質和試樣基體相同的校準；采用待鍍產品做基體進行儀器校準，以避免不相同的集體或局部熱處理和冷加工影響測量數據。
3、涂鍍層測厚儀在靠近試樣邊緣或內轉角處的測量數據往往是不可靠的，這種效應可能從不連續處向前延續約20mm。
4、涂鍍層測厚儀測量曲面時，數據隨曲率半徑的減小而明顯。
5、涂鍍層測厚儀探頭和試樣要保持清潔，因為外來的附著塵埃會影響測量的數據。
涂層測厚儀使用方法
●基體金屬特性
對于磁性方法，標準片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應當與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
對于渦流方法，標準片基體金屬的電性質，應當與試件基體金屬的電性質相似。
●基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度，如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準。
●邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內轉角等處進行測量。
●曲率
不應在試件的彎曲表面上測量。