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應用頻譜分析儀對電子產品的電磁騷亂、電磁輻射準確定位
閱讀：4229 發布時間：2011-6-22
應用頻譜分析儀對電子產品的電磁騷亂、電磁輻射準確定位
在電子產品研發階段，產品要符合EMC的標準，往往工程師都是在產品打樣后送專業的EMC專業機構進行EMC的測試，合格產品獲得機構的書面的認證證書，但是往往產品在研發過程中因一個或多個頻點輻射超標，不得已進行多次的修改送檢，這樣往往既浪費時間有浪費金錢，影像產品的上市時間。
當產品檢測不通過時，回來進行修改后工程師又沒有設備可以測試判斷修改后的性能，在這情況下頻譜分析儀可以幫你解決這個簡單的問題。
我們這里簡單是介紹一下使用頻譜分析儀GSP830進行電磁騷亂的測試：
首先按照EMC的標準對30MHz到1GHz的頻率范圍進行掃描，找出輻射超標的頻點或頻段（或是經專業機構進行檢測后不通過的頻點或頻段）
然后對沒問題頻點和頻段進行頻譜儀的窄拼掃描（SPAN只針對問題頻點頻段掃描，分辨率帶寬RBW盡量設小），找到具體的輻射頻點的頻率。
對問題的頻點抓取后進行分析，這個超標的頻點信號的來源，信號過強的原因，對電路經銷修改（增加磁珠、屏蔽、旁路電阻等減小頻點電路的電流等措施抑制輻射強度）。
頻譜分析儀GSP830還要配套的檢測探頭：
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