XRF分析設備快—1秒鐘出結果
采用行業(yè)的極速探測器技術——（SDD）分辨率至125eV
優(yōu)勢：探測面積大（面積達25mm2）、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好，探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低
采用行業(yè)的數字多道技術
優(yōu)勢：有效提高輸出效率，實現超高計數率，保證采集有效計數率可達600KCPS
采用大功率X光管及良好的準直濾光系統
優(yōu)勢：激發(fā)效率更高
光閘系統
優(yōu)勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度
精密的定位系統
超高清晰工業(yè)攝像頭，更清晰的顯示測試點
多點測試
2D全自動移動樣品臺——可實現圖像聯動控制，多點連續(xù)測試
超小樣品檢測——*小可測到0.2毫米
8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇
準直器*小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測
人性化的設計
更安全：X射線聯動安全裝置——光閘與聯動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯動
XRF分析設備更快捷：多點測試，點哪測哪
預約預熱：根據設定時間，儀器可定時開始測試
預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態(tài)；同時可以實現預約關機，
關機前可設定聲光提示

產品介紹

XRF分析設備是一款XRF熒光檢測儀器，主要針對出口歐盟產品進行的快速精確檢測，是專業(yè)ROHS儀器生產廠家，全新開發(fā)研制的EDX 9000XRF分析設備，正是秉承了這一理念。它不僅繼承了EDX系列準確、快速、無損、直觀及環(huán)保五大特點，采用分析儀器行業(yè)的極速探測器技術（SDD）可將測試時間降低到1秒。同時EDX 9000XRF分析設備還采用了精密的定位系統，可實現圖像聯動控制，多點連續(xù)測試。新增加電動開發(fā)的樣品腔使操作更加方便，全新設計自動樣品平臺讓準確檢測得到保證。

技術參數

XRF分析設備測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）
測量時間：1s或以上
檢出限：分析檢出限可達2ppm，*薄可測試0.005μm
含量范圍：2ppm～99.9%
管壓：5～50KV
管流：≤1000uA
探測器：SDD探測器，分辨率可達125eV
準直器：8種準直器自動切換
濾光片：4種濾光片自由切換
樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭
環(huán)境濕度：≤70%
環(huán)境溫度：15℃～30℃
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）