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ORIETG®-X2筆試電磁超聲與渦流復合測厚儀是一款無需聲耦合劑、非接觸式厚度測量的儀器，可實現金屬或導磁性物質的厚度測量和表面涂層厚度測量。具有下列優勢：
(1) 無需耦合劑、無需打磨、無需接觸，可隔防腐層、漆層測厚。
電磁超聲技術對工件表面要求不高，對粗糙表面無需打磨處理，可實現非接觸式測量；對涂層不敏感，可實現含涂層工件的厚度測量，可隔著防腐層測厚；無需聲耦合劑，可實現高溫工件的厚度測量，可進行溫度補償；
(2) 兼顧電磁超聲測厚和渦流涂層測厚功能。
主機和探頭集成了電磁超聲測厚傳感器和渦流涂層測厚傳感器，能在測量工件厚度的同時兼顧測量渦流涂層厚度，測厚靈敏度較上代產品有顯著提升。
(3) 具備具備線掃描功能。
軟件具備B掃描線掃查功能，方便對腐蝕點進行掃查。
(4) 對工件表面曲率要求低，測厚精度、穩定度較壓電超聲高。
對測厚技術人員要求不高，探頭可傾斜、無需垂直于工件也可測量，數據穩定性高、重復性 好；可以測量小徑管、彎頭內側等區域；特殊設計的測厚算法，測厚精度高，精確到 0.01mm。
(5) 體積小、方便攜帶，帶保存功能，單人即可完成巡檢工作。
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