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干涉顯微鏡是用來測量密加工零件表面（平面、圓柱等外表面）光潔度的儀器。也可以用來測量零件表面刻線、刻槽鍍層（透明）等深度。儀器配以各種附件，還能測量粒狀，加工紋路混亂的表面，低反射率的工件表面。同時還能將儀器安置在工件上，對大型工件表面進行測量。儀器測量表面不平深度范圍為1-0.03微米，用測微目鏡和照明方法來評定▽10-▽14光潔度的表面。本儀器適用于廠礦企業計量室，密加工車間，也適用于高等院校，科學研究單位。
產品簡介
詳細介紹
- 目鏡：測微目鏡12.5X，測微鼓輪分劃值0.01mm
- 儀器放大倍數：500X
- 儀器視場：ф0.25
- 物鏡：數值孔徑0.65mm，工作距離0.5mm
- 標準鏡：高反射率≈50%，低反射率≈4%
- 工作臺：升降范圍5mm，XY方向移動范圍≈10mm，360度旋轉
- 綠色干涉濾色片：波長λ≈5300A，半寬度▽≈100A
- 測量表面光潔度范圍：▽10-▽14（相當于測量表面不平深度范圍為0.1um-0.03um）
- 光源：電珠燈泡6V15W，亮度可調