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產品簡介
雙棱鏡干涉實驗儀實驗內容：調整光路，觀察分波面干涉的干涉條紋，體會分波面的干涉原理和干涉理論。測量干涉條紋的間隔，推算激光波長。
詳細介紹
雙棱鏡干涉實驗儀技術參數
光學實驗導軌：1200mm。
半導體激光器：650nm, 4mW。
透鏡(帶框)： f=100mm，f=60mm，通光直徑：38mm。
激光功率指示計：三位半數字表頭，量程：200μW, 2mW, 20mW, 200mW，可調檔。zui小分辨率0.1u W。
大一維位移架+12檔光探頭：位移范圍100mm，精度0.02mm，光欄直徑：0.5、1、2、3、4、6mm。光欄寬度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm。
一維可調導軌滑塊：調整范圍：10mm。
儀器特點
雙棱鏡干涉實驗儀采用高穩定度和長相干性的半導體激光器作為光源，以帶有小孔和狹縫光欄的功率計作為光強分布的探測器，與傳統的讀數顯微鏡方案相比，本實驗采用的方案更加客觀準確。