日立掃描電鏡是一款功能極其強大的分析儀器，可用于表征納米材料的表面以及進行微觀分析。 TESCAN MAGNA采用 Triglav™ 型 SEM 鏡筒，具有超高的分辨率，在低電壓下尤為明顯；鏡筒內探測器系統具有電子信號過濾能力，可以獲得更好的圖像襯度和表面靈敏度。此外， TESCAN MAGNA 配備肖特基場發射電子槍，能夠提供高達 400 nA 的束流，同時 Triglav™型 SEM 鏡筒所具備的出色性能和高穩定性，為微分析和長耗時樣品的分析應用提供了很好的條件。

日立掃描電鏡低電壓下的優異性能和所能獲得的各種圖像襯度，使得它非常適用于不導電樣品的成像，如陶瓷、無涂層生物樣品，以及在半導體工業和新材料研究中應用越來越普遍的光敏樣品。 TESCAN MAGNA  使用了全新的 TESCAN Essence™ 軟件，用戶界面友好，可以滿足各類應用需求，可定制的布局以及自動化的樣品制備功能，大限度地提升了操作便捷性和工作效率

日立掃描電鏡解決方案
TESCAN *的 Triglav™型 SEM 鏡筒具有三物鏡系統 TriLens™ ，與同類設備相比功能更多樣化。UH-resolution 物鏡提供的超高分辨率非常適合于形貌細節觀察，使研究人員能夠更好的分析納米級樣品。全新的高分辨 Analytical 物鏡可實現無漏磁成像，是磁性樣品觀察和分析（EDS, EBSD）的理想選擇。第三個物鏡可以實現多種模式觀測，并對束斑形狀進行優化，進而改善成像和分析性能。