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首頁 >> 技術文章 >> rifs技術用于分子間互作分析
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反射干涉頻譜法 rifs (Reflectometric Interference Spectroscopy)是讓白光照射在具有光學厚度的薄膜上,光線在反射過程中會發生干涉,檢測樣品與膜上的分子結合后會使光學厚度發生改變,從而使反射光的波長發生相應的改變,通過檢測反射光的峰位的改變情況,來反映分子間的相互作用情況。該方法可用于功能性高分子的評估等領域,同時還可對動態反應進行無標記,實時觀測。
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