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當前位置：> 供求商機> WIVS-II型 垂直掃描白光干涉表面輪廓測量儀
貨物所在地：上海上海市
更新時間：2025-05-10 21:00:08
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產品簡介詳細介紹
儀器的原理，主要構成與特點與WIVS-I型 基本相同，其區別如下： 1 、干涉顯微鏡為自主設計，具有4x、10x、20x、40x、60x、100x等顯微鏡組，用戶可根據測量視場范圍及橫向分辨率的要求挑選。而WIVS—I型由于是6JA干涉顯微鏡改造而來，其物鏡是固定的，為40x。因此WIVS-II型干涉顯微鏡的測量視場擴大了，顯微鏡的分辨率，范圍的選擇擴 大了。 2 、WIVS-II型 垂直掃描白光干涉表面輪廓測量儀垂直掃描時的驅動對象為： 驅動鏡頭進行垂直方向的掃描。
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