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| 應用領域 | 電子 |
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光纖折射率分布分析儀可測量光纖折射率分布剖面,而不需要在375nm~2um波長處切割,適合任意光纖折射率剖面測量。
多波長設計
不需要切割
亞微米空間分辨率
適合任意光纖類型
快速測量
折射率測量精度：+/-0.0001
空間分辨率：~500nm
測量波長：500nm ~1um
適合光纖直徑：40~400um
光纖材質：硅玻璃，非硅玻璃，塑料
同心度誤差：+/-200nm
纖芯非同心度誤差：+/-0.4%
適合光纖種類：單模光纖，多模光纖，微結構化光纖，PCF光纖，保偏光纖，多芯光纖，稀土光纖，包層泵浦光纖，大模面積光纖，低彎曲損耗光纖，高Δ光纖等。
光纖折射率分布分析儀測量結果展示
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