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WD4000無圖晶圓幾何形貌測量系統PX 7171
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GBT17643聚乙烯土工薄膜應力開裂測試儀PX 5107
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SPM300半導體晶圓應力與載流子濃度檢測儀PX 5124
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KLA Candela® 6300系列光學表面分析儀系統PX 3338
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金屬薄膜方阻測試儀PX 1787
氧化鎵電阻率方阻測試儀PX 1787
碳化硅電阻率方阻測試儀PX 1787
晶圓電阻率測試儀PX 1787
無損電阻率測試儀PX 1787
無損方塊電阻測試儀PX 1787
晶錠非接觸方阻測試儀PX 1787
渦流法方阻測試儀PX 1787
非接觸方阻測試儀PX 1787
全自動非接觸電阻率方阻測試儀PX 1787
BX-G3486高性能太陽膜測試儀PX 3114
BX-G3484高性能太陽膜測試儀PX 3114
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BX-G3466高性能太陽膜測試儀PX 3114
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薄膜生長設備
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晶圓缺陷ESD檢測儀
INTECS英特斯 半導體晶圓異物照明檢查燈
INTECS英特斯 晶圓玻璃劃痕光學檢查燈
INTECS英特斯 半導體晶圓表面劃痕檢查燈
S-VANS 晶圓鏡片玻璃照明燈泡 實惠
S-VANS 晶圓缺陷鹵素照明燈 350LSFI
S-VANS 晶圓缺陷光纖導鹵素聚光燈 370TFI/R
S-VANS 晶圓光纖鹵素照明燈 185FI
-日本YAMADA山田半導體檢查燈--備庫銷售
MALCOM馬康 探針測試儀
臺式離線接觸式測厚儀TOF-6R001
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賽默飛色譜及質譜
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