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美國GE B1S-B2S-B4S-B5S帶軟保護膜單晶直探頭
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公司名稱：上海如慶電子科技有限公司
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公司地址：上海市滬松公路1519弄19號814
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縱波探頭能適用于檢測粗晶材料、原始的鑄造材料，
奧氏體和奧氏體焊縫等。
對于普通探頭，由于粗晶粒結構所產生的噪聲幅度與小缺陷的回波幅度基本一
致，這樣容易造成缺陷漏檢。所以，檢測粗晶材料時要選用特殊探頭。有些探
頭可以檢測部分奧氏體焊縫，并得到一些滿意的結果，這主要取決于被檢測材
料的聲學特性。
我們一直致力于解決這個問題，我們選擇不同焦點的單晶探頭和TR探頭進行實
驗，得到檢測粗晶材料的*探頭參數。與此同時，我們得到了奧氏體材料制造
商的大力支持。根據我們的經驗和實驗，我們針對各種粗晶粒材料設計了相應的
探頭，這些探頭都取得了*的效果。此外，這些測試結果還獲得了*信噪比，
并且所有的粗晶探頭都通過縱波探傷。
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