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TEM用氧化硅薄膜窗口/窗格/支撐膜

參考價	￥ 120
訂貨量	≥1

具體成交價以合同協議為準

公司名稱 上海昭沅儀器設備有限公司
品牌
型號
產地
廠商性質 經銷商
更新時間 2018/5/14 9:00:00
訪問次數 607

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TEM用氧化硅薄膜窗

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上海昭沅儀器設備有限公司，代理多項世界*公司的表面形貌測試產品，擁有一支由經驗豐富的銷售人員和技術人員組成的團隊，著重為各高校，研究所等單位提供完整的實驗室科研儀器設備。

公司倡導以客戶為中心的專家式營銷模式，關注產品和服務的每一個細節，吸引了一批中青年專業人才，組成了充滿活力的技術開發和經營管理隊伍，通過與大量用戶的良好互動，穩步建立起完善的市場網絡和*平臺。為進一步提升產品品質，公司組織專門人員建立企業標準，由上海市技術*備案，保證產品更具*的品質和優異的穩定性。
公司秉承“合作、服務、創新”的經營宗旨和服務理念，決心為客戶提供無微不致的關懷，為中國科技教學實踐、材料測試、生物醫學研究、微納機電系統研發等領域提供*的解決方案與咨詢服務。

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各種光學顯微鏡,顯微鏡、勻膠機、等離子清洗機、干燥箱、探針式臺階儀輪廓儀,防震平臺,全光纖測試系統,凝固點測試儀,金屬相圖儀,電鏡耗材

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名稱：氧化硅TEM窗口

編號：氧化硅

產品詳情：

透射電鏡（TEM）用氧化硅薄膜窗格

氧化硅與氮化硅薄膜窗格比較：

相比氮化硅薄膜，氧化硅薄膜更適合用于含氮樣本。在EDS研究中，如基片薄膜含氮，則會與樣本造成混淆。

樣本安置面：

對多數用戶來說，樣本應安置在薄膜窗格的“覆膜面”而非“蝕坑面”。但我們也知道在一些特殊情況下，蝕坑面也可安置樣本。除對樣本進行原子力顯微鏡（AFM）觀測外，蝕坑面本質上并非不可用于放置樣本。實際上，沒有一個顯微鏡的懸臂可以伸至蝕坑內“看清”薄膜表面。

產品規格：

氧化硅薄膜窗特點：

清洗：采用等離子清洗，無有機物殘留，改善成像質量；

均勻性：減少了不同區域的不均勻性；

穩定性： 耐高溫，>1000℃；

良好的化學穩定性：圖像分辨率和機械強度達到理想的平衡；

化學計量比的SiO2：可用于氮氣環境下的EDX分析；

氧化硅薄膜窗規格

窗口類型	薄膜厚度	窗口尺寸	框架尺寸	框架厚度	報價/USD
	20nm	2x1陣列，100X1500µm	Φ3mm	200µm	￥120.00
	40nm	2x1陣列，100X1500µm	Φ3mm	200µm	￥150.00
	20nm	3x3陣列，窗口100X100µm	Φ3mm	200µm	￥200.00
	40nm	3x3陣列，窗口100X100µm	Φ3mm	200µm	￥150.00
	8nm	窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24個網格，網格大小70x70µm	Φ3mm	200µm	￥425.00
	18nm	窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24個網格，網格大小60x60µm	Φ3mm	200µm	￥350.00
	40nm	窗口0.5x0.5mm，氮化硅薄膜200nm；24個網格，網格大小50x50µm	Φ3mm	200µm	￥295.00

氧化硅與氮化硅薄膜窗格比較：

相比氮化硅薄膜，氧化硅薄膜更適合用于含氮樣本。在EDS研究中，如基片薄膜含氮，則會與樣本造成混淆。

優點：

SEM應用中，薄膜背景不呈現任何結構和特點。
x-射線顯微鏡中，裝載多個分析樣的*方法。
無氮

應用：

氧化硅薄膜應用范圍非常廣，甚至有時使不可能變為可能，但所有應用都有無氮要求（因樣本中有氮存在）：

● 惰性基片可用于高溫環境下，通過TEM、SEM或AFM（某些情況下）對反應進行動態觀察。

● 作為耐用（如“強力”）基片，首先在TEM下，然后在SEM下對同一區域進行“匹配”。

● 作為耐用匹配基片，對AFM和TEM圖像進行比較。

● 聚焦離子束（FIB）樣本的裝載，我們*使用多孔薄膜，而非不間斷薄膜。

氧化硅薄膜TEM網格操作使用：

如果正確操作，氧化硅薄膜將會擁有非常好的性能。相反，若用工具直接接觸薄膜，則會即刻損壞薄膜。為防損壞，可用尖嘴鑷子小心夾取，就像夾取其他TEM網格一樣。

使用前清潔：
    氧化硅薄膜窗格在使用前不需進行額外清潔。有時薄膜表面邊角處會散落個別氧化物或氮化物碎片。由于單片網格需要從整個硅片中分離，并對外框進行打磨，因此這些微小碎片不可避免。盡管如此，我們相信這些碎片微粒不會對您的實驗產生任何影響。

    如果用戶確實需要對這些碎片進行清理，我們建議用H₂SO₄ : H₂O₂ （1:1）溶液清潔有機物，用H₂O:HCl: H₂O₂ （5:3:3）溶液清潔金屬。

    通常不能用超聲波清洗器清潔薄膜，因超聲波可能使其粉碎性破裂。

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