陶瓷擊穿場(chǎng)強(qiáng)試驗(yàn)儀陶瓷擊穿場(chǎng)強(qiáng)試驗(yàn)儀

C68.1 絕緣測(cè)試技術(shù)，IEEE標(biāo)準(zhǔn)號(hào)47

1本試驗(yàn)方法在ASTM委員會(huì)D09（電子和電氣絕緣材料）的管轄范圍內(nèi)，D09.12分會(huì)（電學(xué)試驗(yàn)）負(fù)直接責(zé)任。

本版本于2013年4月1日被批準(zhǔn)，2013年4月出版。首版于1922年被批準(zhǔn)。上一版為D149-09于2009年被批準(zhǔn)。DOI:10.1520/D0149-09R13。

2Bartnikas, R., 第3章, “高電壓測(cè)量,” 固體絕緣材料的電學(xué)性能,測(cè)量技術(shù), 第IIB卷, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas, Editor, ASTM STP 926, ASTM, Philadelphia, 1987。

3Nelson, J. K., 第5章, “固體的電介質(zhì)擊穿,” 固體絕緣材料的電學(xué)性能: 分子結(jié)構(gòu)和電學(xué)行為, 第IIA??, 工程電介質(zhì), R. Bartnikas和R. M. Eichorn,Editors, ASTM STP 783, ASTM, Philadelphia, 1983。

4對(duì)于參照的ASTM標(biāo)準(zhǔn)，

ASTM D149-2009介電擊穿電壓試驗(yàn)方法

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀3. 術(shù)語

3.1定義：

3.1.1介質(zhì)擊穿電壓（電擊穿電壓），名詞：使得位于兩個(gè)電極之間的絕緣材料失去介電性能的電勢(shì)差（參見附錄X1）。

3.1.1.1討論一介質(zhì)擊穿電壓有時(shí)也簡(jiǎn)稱“擊穿電壓”。

3.1.2介電失效（在測(cè)試中），名詞：指在測(cè)試限制的電場(chǎng)條件下，能夠持久由介電電導(dǎo)率上升所證明的情況。

3.1.3絕緣強(qiáng)度，名詞：指在測(cè)試的特定條件下，使得絕緣材料介電失效時(shí)的電壓梯度。

3.1.4電氣強(qiáng)度，名詞：參見絕緣強(qiáng)度。

3.1.4.1討論一在國際上，“電氣強(qiáng)度”更常用些。

3.1.5閃絡(luò)，名詞：指發(fā)生在絕緣體或絕緣體周圍介質(zhì)的破壞性電火花，不一定對(duì)絕緣體產(chǎn)生損害。

3.1.6其他與固體絕緣體材料相關(guān)術(shù)語的定義，參見術(shù)語D1711。

耐電壓擊穿試驗(yàn)儀4. 測(cè)試方法概要

4.1在工業(yè)電頻率條件下（如無特殊說明，則為60Hz），對(duì)測(cè)試樣品采用不同的電壓。以使用電壓所描述三種方法中的一種，將電壓從0或從低于擊穿電壓的恰當(dāng)電壓開始，升高到測(cè)試樣品發(fā)生介電失效為止。

4.2大多數(shù)情況下，在測(cè)試樣品的兩邊安裝簡(jiǎn)單的測(cè)試電極，以進(jìn)行電壓測(cè)試。測(cè)試樣品可以是模制的，也可以是鑄造的，或是從扁平薄板或厚板上切割下來的。也可以使用其他的電極或樣品結(jié)構(gòu)以適應(yīng)樣品材料的幾何形狀，或是模擬正在被評(píng)估材料的特定用途。