在幾分鐘內(nèi)即可獲得幾乎任何樣品的成分數(shù)據(jù)。賽默飛 ARL QUANT'X 能量色散X熒光光譜儀（鍍層元素分析）提供大范圍的樣品的常量元素、微量元素和痕量元素的定量分析，包括大塊固體、顆粒、粉末、薄膜和液體。這款全面的臺式 EDXRF(能量色散 X 射線熒光)系統(tǒng)配備無標樣軟件和配件，可滿足中心實驗室、合同實驗室以及環(huán)境監(jiān)測、化工、采礦、法醫(yī)、食品、電子、水泥以及金屬行業(yè)的元素分析需求。

賽默飛 ARL QUANT'X 能量色散X熒光光譜儀有如下分析技術(shù)優(yōu)勢:

1、快速分析氟(F)到鈾(U)之間的元素;

2、元素分析濃度范圍從<1ppm到100;

3、多元素同時測量時間10-60秒;

4、可選多種進樣器;

5、使用CCD相機進行樣品成像;

6、可調(diào)的X射線光斑直徑1- 15 mm，以便適應(yīng)不同樣品大小;

7、高性能電制冷硅漂移探測器(SDD);

8、多功能XRF應(yīng)用軟件;

9、薄膜厚度測量與鍍層分析;

10、UniQuant技術(shù)，無標樣多元素同時分析技術(shù);

11、多語言支持;

12、優(yōu)異的機械耐久性，可保證長時間運行;

13、可選TRACEcom，能夠輕松與LIMS交互;

14、設(shè)計緊湊，可以輕松移動;

15、低噪音、得益于智能溫控風(fēng)扇;

16、全面的自定義和現(xiàn)場應(yīng)用方法建立功能;

17、易于安裝，更易于維護。

與上一代產(chǎn)品相比，新型 ARL QUANT'X 結(jié)合了改進的電子器件、全新的探測器、增強的 X 射線管以及優(yōu)化的幾何結(jié)構(gòu)，從而提高了靈敏度。如果要測定微量元素，除了需要提升靈敏度之外，光譜純度也同樣重要。ARL QUANT'X 經(jīng)過精心設(shè)計，可消除探測器電子器件、分析室、光學(xué)器件和 X 射線管產(chǎn)生的所有雜散干擾。