泰勒霍普森粗糙度輪廓儀

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO測(cè)量原理測(cè)量工件表面粗糙度時(shí)，將傳感器放在工件被測(cè)表面上，由儀器內(nèi)部的驅(qū)動(dòng)機(jī)構(gòu)帶動(dòng)傳感器沿被測(cè)表面做等速滑行，傳感器通過(guò)內(nèi)置的銳利觸針感受被測(cè)表面的粗糙度，此時(shí)工件被測(cè)表面的粗糙度引起觸針產(chǎn)生位移，該位移使傳感器電感線圈的電感量發(fā)生變化，從而在相敏整流器的輸出端產(chǎn)生與被測(cè)表面粗糙度成比例的模擬信號(hào)，該信號(hào)經(jīng)過(guò)放大及電平轉(zhuǎn)換之后進(jìn)入數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)，DSP芯片將采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)字濾波和參數(shù)計(jì)算，測(cè)量結(jié)果在液晶顯示器上讀出，也可在打印機(jī)上輸出，還可以與PC機(jī)進(jìn)行通訊。

泰勒霍普森粗糙度儀SURTRONIC DUO幅值參數(shù)（測(cè)量表面偏差的垂直特征）：Ra （算術(shù)平均值偏差）Rsk （偏斜度）Rz （平均峰谷高度）Rt （輪廓總高度）Rp （大峰高度）Rz1max （大峰谷高度）間距參數(shù)（測(cè)量表面偏差的水平特征）：RPc （峰數(shù)量）RSm （輪廓元素的平均寬度）混合參數(shù)（間距和幅值參數(shù)的組合）：Rmr （材料支撐比）Rda - R Delta a（算術(shù)平均斜率）上述參數(shù)涵蓋了大部分用于檢查潤(rùn)滑、進(jìn)給速率、壓力、摩擦和磨損性能的*常用要求。可另外使用Talyprofile 軟件來(lái)分析其他參數(shù)