LuphoScan 260/420 HD測量臺開創(chuàng)了光學(xué)表面高精密計(jì)量的新領(lǐng)域。新一代的測量系統(tǒng)能夠測量物件角度大至90° 度，測量精度高于±50 nm (3σ) 。測量結(jié)果有著很高的重復(fù)性且低噪音。全新的 LuphoScan 260/420 HD是對高精度有著很高要求應(yīng)用的理想選擇，是生產(chǎn)過程控制的*基本要求。可測量坡度很高的表面、具有不同間距方向的表面、很小的表面例如手機(jī)鏡頭模具。LuphoScan測量平臺是一款基于多波長干涉技術(shù)（MWLI）的干涉式掃描測量系統(tǒng)。 它專為旋轉(zhuǎn)對稱表面的超精密非接觸式3D形狀測量而設(shè)計(jì)， 例如非球面光學(xué)透鏡。該系統(tǒng)能為高質(zhì)量的光學(xué)表面3D形狀測量提供**效益。LuphoScan量測平臺是一款利用多波長干涉技術(shù)（MWLI）的干涉式掃描量測系統(tǒng)。它專為旋轉(zhuǎn)對稱表面的超精密非接觸式3D形狀量測而設(shè)計(jì)，例如非球面光學(xué)透鏡。LuphoScan平臺能夠輕松進(jìn)行非球面、球面、平面和自由曲面的量測。該儀器的主要特性包括高速量測、特殊表面的高靈活度量測 (例如；反曲點(diǎn)的輪廓或平坦的尖點(diǎn)), *大物體直徑可達(dá)420 mm， 因?yàn)椴捎枚嗖ㄩL干涉技術(shù)（MWLI）傳感器技術(shù)， 因此能夠掃描各種表面類型如透明材料、金屬部件和研磨表面。

使用LuphoSwap擴(kuò)充功能完成對光學(xué)元件形狀誤差特性的測量：

LuphoScan 260和LuphoScan 420量測平臺可以應(yīng)用 LuphoSwap的擴(kuò)充功能，來對透鏡兩個表面的所有特征進(jìn)行連續(xù)量測。一個特別的量測概念能夠?qū)蓚€表面的量測結(jié)果相關(guān)聯(lián)起來。這個概念就是在量測形狀誤差的同時，LuphoSwap能夠確定透鏡的準(zhǔn)確的厚度、楔形度和偏心度誤差以及旋轉(zhuǎn)方向。此外， 還能夠計(jì)算出透鏡座的位置。這個強(qiáng)大的工具功能來自于LuphoSmart感測器技術(shù)，一個特別的夾具模式，以及額外的（跳動）基準(zhǔn)傳感器。

泰勒霍普森luphoscan 3D光學(xué)輪廓儀

LuphoScan系統(tǒng)能提供高品質(zhì)光學(xué)表面3D形狀量測的效益：
       ?    對任何旋轉(zhuǎn)對稱的表面深入分析 - 非球面、球面、平面和自由曲面
       ?    超高的、可重復(fù)精度 - ≤ ± 50 nm
       ?    可量測任何材料 - 透明、鏡面、不透明、拋光、研磨
       ?    偏離的大球面 - 不受偏離限制。例如，能夠量測盤式或鷗翼表面，以及彎曲點(diǎn)的輪廓
       ?    大斜坡量測 - 可達(dá)90° (例：半球量測)

       ?    完整透鏡特征* - 透鏡厚度、楔形誤差、偏心誤差、透鏡安裝位置

1、測量精度
該系統(tǒng)使用了復(fù)雜的參考傳感器以及特殊的基準(zhǔn)框架概念， 能夠確保*高精度的測量結(jié)果， 精度可在±50nm以上。
2、高速測量
典型測量時間：30mm直徑球面小于2分鐘，130mm直徑球面小于5分半鐘。
3、多樣化的測量平臺配置
LuphoScan測量平臺技術(shù)能夠提供三種不同大小和不同測量配置的選擇。 測量平臺大小能夠決定Z大被測物體。 Z大測量直徑可選：120mm、260mm和420mm。
4、4K相機(jī)與投影鏡頭
以*高解析度量測非球面。良好的信賴性有效降低人為操作誤差的影響。  LuphoScan HD機(jī)款讓制造者更準(zhǔn)確的量測所有光學(xué)件。*大適用性: 大斜率、復(fù)雜設(shè)計(jì)、多段非球面設(shè)計(jì)。得利于LuphoScan HD量測靈活性與信賴性，可滿足所有光學(xué)生產(chǎn)上所有的量測需求。舉凡越趨復(fù)雜化的鏡頭設(shè)計(jì)、大斜率非球面與高曲率海鷗形狀設(shè)計(jì)。
5、手機(jī)相機(jī)鏡頭模組
針對射出模型工件，透過準(zhǔn)確的鏡筒與治具的光學(xué)面相對定位，提升光學(xué)與機(jī)械性的再現(xiàn)性。
6、光學(xué)面的定位
結(jié)合多個鏡頭，畫像處理系統(tǒng)再提升! 內(nèi)建模組能應(yīng)用于使用者自定義的工件斜率與偏心率偵測解析提升，例如:鏡頭邊緣。在組裝制程中，采用此量測數(shù)據(jù)，可大大幫助改善光學(xué)系統(tǒng)的效率，并大幅降低誤差。