基本參數法(FP法)有害元素測試儀
- 公司名稱 深圳市太赫茲科技創新研究院有限公司-J
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2019/4/1 12:15:16
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基本參數法(FP法)有害元素測試儀是根據X射線熒光強度與元素含量、厚度等的函數關系,應用核物理、應用數學、計算機等領域內的前沿研究成果,依據X射線熒光激發樣品物理機制所提供的數學校正方法,該測試方法適用于分析無標樣或少標樣的樣品,在合金、陶瓷、多元半導體材料、考古、地質樣品領域有廣泛應用空間。
基本參數法(FP法)有害元素測試儀技術指標
1.測量元素范圍:從硫(S)到鈾(U).
2.元素含量分析范圍:ppm--99.99%(不同元素,分析范圍不同)
3.同時分析元素:一次性可測幾十種元素。
4.測量時間:60秒--200秒。
5.樣品類型:塑膠、金屬、粉末、液體。
6.低檢出下線:Cr/Cd/Hg/Br2ppm,Pb
5ppm.
7.電源:交流220V±5V。
8.分辨率能達到149±5.
9.外觀尺寸:樣品腔尺寸:460*298*150mm 外觀尺寸:550*416*333mm.
10.電源:AC220V--240V/50HZ
11額定功率:800W 重量:約45KG
有害元素測試儀性能特點:
1.檢測樣品為規則樣品與不規則樣品,包括塊狀、片狀、線狀。樣品類型為塑膠、金屬、粉末、液體、
2.高壓電源。功率為50W。電壓:0-50KV,電流0-1000uA.
3.高效X光管。功率50W,管壓5-50KV,管流電流0-1000uA。
4.進口原裝電制冷Si-Pin探測器。良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比。
5.高信噪比的電子線路系統。
6.八個準直器和四個濾光片的電動組合,軟體自動切換,滿足各種測試方式的應用,降低分析元素附件的背景強度,提高分析低限。
7. 多參數線性回歸方法,使元素間的吸收、增強效應得到明顯的抑制,提高分析準確度。
8.內置高清晰攝像頭,有效的實時觀察測試區域狀況,并拍下物料照片,作為檢測報告的組成部分。
9.載物測試平臺,配有微調裝置,實現檢測物的定位與檢測區域的理想調整。
10.小樣品腔尺寸(閉倉門測試):460*298*150mm.大樣品腔尺寸(開倉門測試):無限制,部分取代手持式功能。
11.高效三維散熱系統:大幅度提供儀器的可靠性、穩定性。
12.輻射安全系統:隱蔽式設計、軟件、硬件三重射線防護系統。
13.分析軟件:的XRF分析軟件,融合了包括經驗系數法、基本參數法(FP法)、理論a系數法等多種經典方法,全面保證測試數據的準確性。