RYS-DBC-031晶閘管測試儀/晶閘管伏安特性測試儀/晶閘管觸發電壓、觸發電流、維持電流測試儀

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RYS-DBC-031晶閘管測試儀/晶閘管伏安特性測試儀/晶閘管觸發電壓、觸發電流、維持電流測試儀

晶閘管測試儀生產廠家   晶閘管伏安特性測試儀哪里購買

晶閘管觸發電壓、觸發電流、維持電流測試儀

北京瑞億斯科技有限公司 如何怎么使用和哪里購買

RYS-DBC-031晶閘管測試儀用于測試普通可控硅、雙向可控硅、快速可控硅和可控硅模塊的如下參數：

1、觸發電流（IGT）；

2、觸發電壓（VGT）；

3、維持電流（IH）；

4、數字顯示測試結果,自動測試。

主要技術參數指標

1、測量范圍： 觸發電流1-450mA；

              觸發電壓0-7V；

              維持電流1-450mA。

2、外形尺寸：440×440×150mm

3、整機重量：10kg

1 概述

RYS-DBC-031晶閘管測試儀本儀器是晶閘管觸發電壓V_GT、觸發電流I_GT和維持電流I_H三項參數的測試設備。適用于各種反向阻斷晶閘管，逆導晶閘管及雙向晶閘管的參數測試。本測試儀設計*，結構合理，操作簡便。并具有數字顯示，自動測試等功能。其技術指標符合GB4024-83標準的規定，是電力半導體器件生產廠和使用單位zui為理想的檢測設備。

2 技術參數

2.1 A(T₂)、K(T₁)間的斷態電壓：DC 12V(內部限流電阻6.8Ω)。

2.2 觸發電流、維持電流測量范圍：1-450mA

2.3 觸發電壓測量范圍：0-7V

2.4 測量時間：小于2S

2.5 工作條件

電源:AC 220V±10%  50HZ

溫度：0-40℃

2.6 整機功耗：小于75VA

2.7 整機重量：約10Kg

2.8 整機尺寸：440×440×150mm

3 結構特征

本儀器為箱式結構，數字顯示，讀數直觀方便。前部是面板，裝有控制鍵、數字顯示表和接線端子等。后蓋板上裝有三芯電源插座和保險絲盒(保險絲為0.5A/250V)。三線電源插頭的地端要可靠接地，以確保測試人員的安全和測試精度。

4 操作使用方法

4.1 面板說明(參見面板圖)

4.1.1 “電源”開關

此開關擲向開時，內藏指示燈亮，電源接通。

4.1.2 “A(T₂)、K(T₁)、G”接線端子

被測器件接線端子

4.1.3 “mA”電流顯示表

顯示被測器件的觸發(維持)電流，單位毫安。

4.1.4 “V”電壓顯示表

顯示被測器件的觸發電壓，單位伏特。

4.1.5“I_GⅠ+”觸發象限選擇鍵

按動此鍵，內藏指示燈亮，主回路A(T₂)接正、K(T₁)接負、G接正，儀器處于觸發電流待測狀態。

4.1.6 “I_GⅠ-”觸發象限選擇鍵

按動此鍵，內藏指示燈亮，主回路A(T₂)接正、K(T₁)接負、G接負，儀器處于觸發電流待測狀態。

4.1.7 “I_GⅢ-”觸發象限選擇鍵

按動此鍵，內藏指示燈亮，主回路A(T₂)接負、K(T₁)接正、G接負，儀器處于觸發電流待測狀態。

4.1.8 “I_H”功能選擇鍵

按動此鍵，內藏指示燈亮，“mA”電流顯示表顯示大于“450”的某一數值，儀器處于維持電流待測狀態。

4.1.9 “復位”鍵

按動此鍵，在觸發參數待測狀態下，“mA”電流和“V”電壓顯示表顯示零。在維持電流待測狀態下，“mA”電流表顯示大于“450”的某一數值，“V”電壓表顯示的數值無意義。

4.1.10 “測試”鍵

按動此鍵，儀器開始根據功能選擇鍵所處的狀態，自動進行相應的測試。測試過程中，測試鍵內藏指示燈亮，測完后，指示燈自動熄滅。

4.2 電源線連接

三線電源插頭的地端要可靠接地，以確保測試人員的安全和測試精度。

4.3 測試步驟

4.3.1 打開“電源”開關。

4.3.2 將被測器件接在“A、K、G”接線端子上。

4.3.3 選擇“I_GⅠ+”、“I_GⅠ-”、“I_GⅢ-”觸發象限功能鍵或“I_H”維持電流功能鍵。

測試普通、快速晶閘管選擇“I_GⅠ+”，測試KS雙向晶閘管分別選擇“I_GⅠ+”、“I_G Ⅰ-”、“I_GⅢ-”，測試維持電流選擇“I_H”。

4.3.4 按動“復位”鍵

如儀器處于觸發參數待測狀態，電流、電壓顯示表回零。如儀器處于維持電流待測狀態，電流顯示表顯示“450”mA左右的某一數值。

4.3.5 按動“測試”鍵

測觸發參數時，電流表和電壓表顯示的數字由小到大變化，測完自動停止變化；測維持電流時，電流表顯示數字由大到小變化，測完自動停止。測試過程中“測試”鍵內藏指示燈亮，測完后指示燈自動熄滅。此時穩定的顯示值即為測量讀數。(注：測維持電流時，電壓表顯示的數值無意義。整個測試過程在2秒內完成)。

4.3.6 更換被測器件后，按4.3.3-4.3.5條操作即可。

注：對同一器件進行多次重復測試，測試過程由于被測器件發熱，參數會有所變化，測試中應注意。