WH82雙基涂層測(cè)厚儀是一種便攜式雙基(鐵、鋁)測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室中的精密測(cè)量，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)廣泛地應(yīng)用在金屬制造業(yè)、化工業(yè)、航空航天、科研開(kāi)發(fā)等領(lǐng)域，是企業(yè)保證產(chǎn)品質(zhì)量、商檢測(cè)控、*的檢測(cè)儀器。

WH82雙基涂層測(cè)厚儀的技術(shù)參數(shù)

WH82雙基涂層測(cè)厚儀符合以下標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測(cè)量 磁性方法

GB/T 4957─1985 非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層厚度測(cè)量 渦流方法

JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測(cè)量?jī)x

JJG 889─95 《磁阻法測(cè)厚儀》

JJG 818─93 《電渦流式測(cè)厚儀》

WH82雙基涂層測(cè)厚儀的產(chǎn)品特點(diǎn)

采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度;可采用單點(diǎn)校準(zhǔn)和兩點(diǎn)校準(zhǔn)兩種方法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)量頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正，保證儀器在測(cè)量過(guò)程中儀器的準(zhǔn)確性;能快速自動(dòng)識(shí)別鐵基體與非鐵基體具有電源欠壓指示功能操作過(guò)程有蜂鳴聲提示;設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式;有負(fù)數(shù)顯示功能，保證儀器在零位點(diǎn)的校準(zhǔn)準(zhǔn)確性;有顯示平均值、zui大值、zui小值功能[*]

WH82雙基涂層測(cè)厚儀的測(cè)量原理

采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，可無(wú)損地測(cè)量磁性金屬基體( 如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等 )上非磁性覆蓋層的厚度(如鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、 油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、 鋁、 鋅、 錫等)上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度(如:琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。

a) 磁性法(F 型測(cè)量頭)

當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，測(cè)量頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路，由于非磁性覆蓋層的存在，使磁路磁阻變化，通過(guò)測(cè)量其變化可導(dǎo)出覆蓋層的厚度。

b) 渦流法(N 型測(cè)量頭)

利用高頻交變電流在線圈中產(chǎn)生一個(gè)電磁場(chǎng)，當(dāng)測(cè)量頭與覆蓋層接觸時(shí)，金屬基體上產(chǎn)生電渦流，并對(duì)測(cè)量頭中的線圈產(chǎn)生反饋?zhàn)饔茫ㄟ^(guò)測(cè)量反饋?zhàn)饔玫拇笮】蓪?dǎo)出覆蓋層的厚度。