植物冠層分析儀系統利用作物冠層中光合活性輻射（標準桿數）的現場測量，提供有關葉面積指數（LAI）和生物量生產的有價值信息。
SunScan植物冠層分析儀經過you化，可測量大多數農作物等低規則樹冠中的標準桿數。1米探頭可實現大面積的快速空間平均，并為葡萄園和果園等非均勻作物繪制標準桿數圖。借助du特的BF5參考標準桿數日照傳感器，SunScan植物樹冠分析儀可用于大多數天氣條件。
特點
測量雨棚中的事件和傳輸標準桿數
直接顯示葉面積指數
可在多云和晴朗的條件下使用
經過驗證的研究級冠層分析儀
非常適合表型應用
規格參數
有效面積：1m x 13mm寬，傳感器采樣15.6mm
光譜范圍：400-700nm (PAR)
測量時間：120ms
zui大讀取： 2500 µmol.m-2.s-1
分辨率： 0.3 µmol.m-2.s-1