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X射線熒光光譜儀的優(yōu)缺點
2020年07月06日 09:40:26
來源：化工儀器網(wǎng) 點擊量：7400
X射線熒光是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線，這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析。X熒光光譜就是利用X射線熒光研發(fā)的儀器，大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品。
【化工儀器網(wǎng) 技術指導】X射線熒光是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線，這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學分析。X射線熒光光譜就是利用X射線熒光研發(fā)的儀器，大多數(shù)分析元素均可用其進行分析，可分析固體、粉末、熔珠、液體等樣品。
近年來，X射線熒光光譜分析在各行業(yè)應用范圍不斷拓展，X射線熒光光譜儀已成為一種廣泛應用于冶金、地質(zhì)、有色、建材、商檢、環(huán)保、衛(wèi)生、地球化學、法醫(yī)學、考古學等各個領域的儀器設備，備受分析測試用戶的青睞。
X射線熒光光譜儀的原理是：X熒光光譜儀受激發(fā)的樣品中的每一種元素會放射出二次X射線，并且不同的元素所放射出的二次X射線具有特定的能量特性或波長特性。探測系統(tǒng)測量這些放射出來的二次X射線的能量及數(shù)量，然后，儀器軟件將探測系統(tǒng)所收集到的信息轉(zhuǎn)換成樣品中各種元素的種類及含量。
X射線熒光光譜分析是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。其優(yōu)缺點分別有哪些呢？
優(yōu)點：
a) 分析速度快。雖然測定用時與測定精密度有關，但一般都很短，10~300秒就可以測完樣品中的全部待測元素。
b) X射線熒光光譜跟樣品的化學結(jié)合狀態(tài)無關，跟固體、粉末、液體及晶質(zhì)、非晶質(zhì)等物質(zhì)的狀態(tài)也基本上沒有關系。
c) 非破壞分析。在測定中不會引起化學狀態(tài)的改變，也不會出現(xiàn)試樣飛散現(xiàn)象。同一試樣可反復多次測量，結(jié)果重現(xiàn)性好。
d) X射線熒光分析是一種物理分析方法，所以對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析。
e) 分析精密度高。
f) 制樣簡單，固體、粉末、液體樣品等都可以進行分析。
缺點：
a) 定量分析需要標樣。
b)對輕元素的靈敏度要低一些。
c)容易受相互元素干擾和疊加峰影響。
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